使用本產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗是為了確保產(chǎn)品在規(guī)定的使用壽命內(nèi)以及在預(yù)期使用、運輸或儲存的所有環(huán)境中保持其功能可靠性的活動。使產(chǎn)品暴露于自然或人工環(huán)境條件下，以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸、儲存等環(huán)境條件下的性能，分析研究環(huán)境因素的影響程度和作用機理。

　　下面這三點因素可能會影響到冷熱沖擊試驗箱的壽命：

　　1、濕度因素：通常，一些濕度、雨水、露水等都是引起濕度的因素。濕氣形成的露水是室外濕度的主要因素。露水造成的危害比雨水更大，因為它附著在材料上的時間更長，引起更嚴(yán)重的吸濕。例如，木器漆的表面老化層被雨水沖刷去除，未老化的內(nèi)層暴露在陽光下，導(dǎo)致進(jìn)一步老化；

　　2、光照系數(shù)：沖擊試驗箱中不同產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)光照強度不同。例如，那些耐用的材料，如塑料、涂料等，在遇到光照時不會造成嚴(yán)重的老化。因此，有必要對產(chǎn)品和設(shè)備的材料組成進(jìn)行分析；

　　3、高溫因素：當(dāng)環(huán)境溫度因高溫而升高時，光照強度和損傷程度會增加。溫度和光之間沒有直接的化學(xué)反應(yīng)，但它們之間的關(guān)系很微妙。所以在測試產(chǎn)品時，要把握好溫度范圍。

　　冷熱沖擊試驗箱可應(yīng)用于電子電氣元器件、自動化元器件、通訊元器件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料、國防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板、電子芯片IC等領(lǐng)域，半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料通過測試材料的物理變化、低溫反復(fù)拉伸力以及產(chǎn)品在熱膨脹和冷縮過程中的化學(xué)變化或物理損傷，可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。從精蜜集成電路到重型機械元件，它都是一種理想的測試工具。